半导体测试技术问答题每日一练(2019.05.06)

来源：考试资料网
1.问答题NPN三极管放大时管子内部的工作原理。
参考答案：1、发射区向基区发射电子（形成发射极电流）
发射结施加正向电压且掺杂浓度高，所以发射区多数自由电子越过发射结扩...
点击查看完整答案
2.问答题数字电路测试的流程。
参考答案：⑴先阅读被检器件的使用手册，根据手册上的动、静态参数编写测试程序；
⑵根据送测单位的测试流程单给出的测试设备选...
点击查看完整答案
3.问答题测试的一般要求。
参考答案：必须按照微电子器件试验方法的军用国家标准进行测试，其中就对测试环境提出了严格的要求，这样可以避免外界因素对器件造成的误差...
点击查看完整答案
4.问答题静电对电子器件的危害。
参考答案：⑴静电吸附灰尘，改变线路间的阻抗，影响产品的功能与寿命。
⑵因电场或电流破坏元件的绝缘或导体，使元件不能工作（...
点击查看完整答案
5.问答题Open-short功能测试优缺点。
参考答案：优点
相对于DC串行/静态法，运行测试向量要快得多。
缺点
datalog显示的结果信息有...
点击查看完整答案