粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。

热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。