利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

扫描隧道显微镜能用于观察导体、半导体和绝缘体材料的表面结构。

热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。