在检测晶粒粗大和大型工件时，应测定材料的衰减系数，计算时应考虑介质衰减的影响。

对于圆柱体而言，外圆径向检测实心圆柱体时，入射点处的回波声压实际上由于圆柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，会使定量误差增加。

由于圆柱形工件有一定的曲率，直探头与工件直接接触时，接触面为一条很宽的条形区域，从在而在圆柱的横截面内会产生强烈的声束扩散。

检测曲面工件时，探头与工件接触有两种情况，一是平面与曲面接触，另一种是将探头斜楔磨成曲面，探头与工件曲面接触。

非金属夹杂等缺陷的声阻抗与钢的声阻抗相差很小，声波在缺陷上的透射和吸收明显高于白点和气孔等缺陷。

动态范围的最小信号可能受到放大器的饱合或系统噪声的限制。

当探头与被检工件表面耦合状态不同时，而又没有进行适当的补偿，会使定量误差增加，精度下降。

根据球形反射体返回晶片声压的计算公式与圆柱形平面反射体的表达式进行比较可知，在反射体直径相同的情况下，圆形反射体的反射声压比球形反射体的反射压小。

分辩率可使用通用探伤仪进行测量，测试时仪器抑制置“零”或“开”位，必要时可加匹配线圈。

无论声波相对于缺陷是垂直入射还是斜入射，缺陷大小不同其反射波的指向性有相当大的差异。