A.0.2592
B.0.3
C.0.7408
D.0.1
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
A.R(x)=1-e-λx
B.R(x)=λe-λx
C.R(x)=e-λx
A.二项分布,泊松分布
B.正态分布,对数正态分布
C.指数分布,威布尔分布
D.以上都对
A.产品在使用过程中首次发生故障的平均时间
B.对可修复产品在使用过程中平均故障的间隔时间
C.对不可修复产品在使用过程中平均故障时间
D.产品在使用过程中致命故障的间隔时间
A.可靠性计算
B.换件维修
C.改进设计
D.可靠性试验
A.由偶然因素引起的故障称为偶然故障
B.由老化、磨损等因素引起的故障称为耗损故障
C.按故障的统计特性分为独立故障和从属故障
D.按故障的规律分为致命性故障和非致命性故障
A.可修复,可修复
B.不可修复,不可修复
C.不可修复,可修复
D.可修复,不可修复
A.早期故障期
B.贮存故障期
C.偶然故障期
D.耗损故障期
A.质量是产品可靠性的重要内涵
B.可靠性是产品质量的重要内涵
C.可靠性与产品质量无关
D.产品可靠,质量自然就好
A.样本量大于等于50
B.落入每组的频率数不能太小
C.需要卡方分布分位数表
D.样本量大小对精度无影响
A.一次性成败型样本
B.定数截尾试验样本
C.定时截尾试验样本
D.随机截尾样本
最新试题
使用数据需要收集的内容有()
关于可靠性鉴定试验方案中风险的正确说法有()
提高电子产品固有可靠性的有效途径有()
预防性维修工作的确定采用()
关于可靠性特征量的描述正确的有()
电子产品热设计相关的国家军用标准有()
建立故障树应遵循以下原则()
关于皮尔逊卡方检验的使用条件,说法正确的是()
某机电产品的寿命服从指数分布,抽取10个样品试验到500H时有一个样品发生故障,则置信度为0.9时(),提示:QL=7.78
元器件计数法采用了哪些假设()