A.正态分布的失效率λ等于常数。
B.正态分布具有对称性,它的主要参数是均值μ和方差σ2,记为N.μ,σ2)
C.均值μ决定正态分布曲线的位置,代表分部的中心倾向。
D.方差σ2决定正态分布曲线的形状,表征分布的离散程度。
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A.二项分布
B.正态分布
C.指数分布
D.泊松分布
A.R(t)是[0,∞)区间内的非减函数,且0≤R(t)≤1
B.R(t)是[0,∞)区间内的非增函数,且0≤R(t)≤1
C.在[0,∞)区间内,R(t)+F(t)=1
D.F(t)是[0,∞)区间内的非减函数,且0≤F(t)≤1
A.物理变化
B.化学变化
C.数学变化
D.生物变化
A.设备的故障率是各器件故障率之和
B.用于主动冗余电路
C.假定设备是串联可靠性模型
D.要求各器件的故障率相等
A.可靠性设计准则是进行可靠性定性设计的重要依据
B.贯彻可靠性设计准则可以提高产品的固有可靠性
C.贯彻可靠性设计准则是实现可靠性设计与性能设计同步的有效方法
D.以上都是
A.阶数越大的最小割集越重要
B.在低阶最小割集中出现的底事件比高阶最小割集中的底事件重要
C.在不同最小割集中重复出现次数越多的底事件越重要
D.B和C都对
A.严酷度,概率等级
B.危害度,频数
C.概率,概率等级
D.严酷度,频率
A.自上而下,整体到局部
B.自上而下,局部到整体
C.自下而上,整体到局部
D.自下而上,局部到整体
A.e1.1
B.e-0.1
C.e-l
D.e-0.001
A.
B.
C.
D.
最新试题
按不同的质量特性,数据可以分为()
降额等级表示产品中的元器件降额的程度,新研产品确定降额等级时考虑的主要因素有()
维修性分配时需要进行()
可达可用度与()无关。
电子产品热设计相关的国家军用标准有()
关于贮存寿命试验的正确说法有()
新研产品其降额等级参考GJB/Z35外,可根据新产品的可靠性,维修性,安全性,以及()等因素来确定降额等级。
维修性分配可以()
关于可靠性鉴定试验方案中风险的正确说法有()
有关系统效能的不正确的说法是()