单项选择题探头的近场长度由下式决定(式中λ波长,f频率,D晶片直径)()。

A、N=1.22λ/D
B、N=D/4λ
C、N=D2/4λ
D、N=2/D


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2.单项选择题如果探测面毛糙,应该采用()。

A、不太高频率的探头
B、较高频率的探头
C、硬保护膜探头
D、大晶片探头

3.单项选择题用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。

A、愈高愈好
B、愈低愈好
C、不太高
D、较寻常时取高值

4.单项选择题用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。

A、面积大的,当量也一定大
B、面积大的,当量不一定比面积小的大
C、面积大的,当量反而比面积小的小
D、相等

5.单项选择题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是()。

A、聚焦探头
B、直探头
C、斜探头
D、串列双斜探头