对于圆柱体而言，外圆径向检测实心圆柱体时，入射点处的回波声压理论上同平底面工件相同。

经变形横波转换后探头接收到的回波滞后于单纯纵波传播至底返面的回波，滞后时间与变形横波横穿工件厚度的次数成反比。

缺陷垂直时，扩散波束入射至缺陷时回波较高，而定位时就会误认为缺陷在轴线上，从而导致定位不准。

缺陷相对反射率即缺陷反射声压与基准反射体声压之比。

高温探头前面壳体与晶片之间采用特殊钎焊，使之形成高温耦合层。

水浸聚焦探头是由外壳、阻尼块、晶片、声透镜等组成。

检测曲面工件时，探头与工件接触有两种情况，一是平面与曲面接触，另一种是将探头斜楔磨成曲面，探头与工件曲面接触。

在检测晶粒粗大和大型工件时，应测定材料的衰减系数，计算时应考虑介质衰减的影响。

对于横波斜探头而言，不同K值的探头的灵敏度不同，因此探头K值偏差也会影响缺陷的定量。

仪器时基线调节比例时，若回波前沿没有对准相应垂直刻度或读数不准，会使缺陷定位误差增加。