探伤中探头晶片尺寸增加，相应的（）对探伤有利。

剥离层下核伤可采用轨颚法进行校对，用轨颚校对法校对时，需在钢轨表面校对的灵敏度的基础上增加（）。

垂直法局部扫查即探头在整个面上按规定，并事先划出的线上移动，相邻扫查线的间距往往（）探头直径。

垂直法探伤时，对要求不太高的工件常采用局部法进行扫查，局部法扫查一般分为（）。

探伤工技师对设备调整中的（）的相关知识应了解。

探伤中为了保证工件的整个被检部位有足够的声束覆盖，探头扫查线的相邻距离应小于探头的有效直径，应有探头宽度（）的重叠。

探头移动过程中同时作（）转动，称为摆动扫查。

在超声波探伤中当工件声衰减很小、试件的厚度较大时，如果重复频率过高，仪器可能会产生（）

探伤工艺规程编制的内容有很多，其中包括（）。

探伤工艺规程编制应对受检工件的（）做好记录。