A、一样
B、传播横波时大
C、传播纵波时大
D、以上a和b
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A、钛酸钡(Tc=115°)
B、PZT-5(Tc=365°)
C、铌酸锂(Tc=1200°)
D、硫酸锂(Tc=75°)
A、激励电脉冲的宽度
B、发射电路阻尼电阻的大小
C、晶片材料和厚度
D、晶片的机电耦合系数
A、等于入射角的1/4
B、等于入射角
C、纵波反射角>横波反射角
D、b和c
A、密度
B、弹性模量
C、泊松比
D、以上全部
A、介质的弹性
B、介质的密度
C、超声波波型
D、以上全部
A、c=f•λ
B、λ=c•f
C、f=c•λ
D、λ=f/c
A、取决于脉冲发生器、探头和接收器的组合性能
B、随频率的提高而提高
C、随分辨率的提高而提高
D、与换能器的机械阻尼无关
A、表面波
B、板波
C、疏密波
D、剪切波
A、增大
B、减小
C、不变
D、呈指数函数变化
A、纵波
B、横波
C、板波
D、表面波
E、a和b
最新试题
下面列出的确定透照布置应考虑的基本内容中,错误的是()。
增加工艺性透视有利于保证焊接质量,因此尽可能增加工艺性透视次数。
像质计放置次数一般应与透照次数相同,相同部位、相同的透照条件连续透照时可适当减少放置次数.但不少于透照次数的三分之一。
在射线照相检验中,随着射线能量的提高,得到的图像不清晰度也将增大。
探伤人员在透视间内发现辐射正在进行应立即()。
产品焊接接头最终质量经X射线检验合格后不得再实施影响接头性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否则应重新申请进行X射线检测。
对于直径Φ50mm导管环焊缝,采用的透照方式为()。
底片图像质量参数中的颗粒度与胶片的粒度是同一概念。
废旧药液应采用专用容器收集,定期送指定的机构处理。
缺陷分类应符合验收标准的要求,标准未作规定的缺陷或不属于X射线照相检验范畴的缺陷,必要时可予以注明供有关人员参考,但不作为合格与否判定的依据。