A.干法交流电;
B.千法直流电;
C.湿法交流电;
D.湿法直流电
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A.连续法;
B.剩磁法;
C.间断法;
D.反向电流法
A.外表面;
B.壁厚的一半处;
C.两端;
D.内表面
A.使磁场变弱;
B.使磁导率降低;
C.产生漏磁场;
D.产生电流
A.磁粉的流动性不再对检验有影响;
B.直流电易于达到磁场饱和;
C.交流电的趋肤效应使可发现缺陷的深度变小
D.没有技术方面的理由
A.紫外光是可见光;
B.用来荧光磁粉探伤的紫外波长是3650埃;
C.被检工件表面上的紫外光光强不得低于970lx
D.波长小于3300³10m的紫外光对人眼有害;
E.除A以外都对-10
A.交流电磁化时在切断电流反向以前;
B.磁化电流切断以后;
C.通电过程中;
D.施加磁粉时
A.纵向磁化;
B.周向磁化;
C.复合磁化;
D.剩余磁化
A.周向磁化;
B.纵向磁化;
C.A和B;
D.A和B都不是
A.产生强显示;
B.产生弱显示;
C.不产生显示;
D.产生模糊显示
A.与缺陷宽深比无关;
B.缺陷深度至少是其宽度的5倍;
C.缺陷的宽深比为1;
D.以上都不是
最新试题
JB/T4730.4-2005标准规定:剩磁应不大于0.3mT(240A/m)。
相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示。
干磁粉可采用手动或电动喷粉器以及其他合适的工具来施加,施加时磁粉应厚些撒在工件表面上。
在黑光灯下检查荧光磁悬液的载液发出明显的荧光,即可判定磁悬液污染。
C型灵敏度试片与A型灵敏度试片使用方法相同,只是C型灵敏度试片能用于狭小部位。
JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。
湿法用磁粉粒度一般比干法小。
荧光磁粉检测时,磁痕的评定应在暗室或暗处进行,暗室或暗处可见光照度应不小于20Lx。
对于交流线圈,线圈中的工件将影响电流的调整。
工件的退磁效果一般可用剩磁检查仪或磁场强度计测定。