A.电晕放电;
B.辉光放电;
C.沿面放电;
D.局部放电。
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A.改变外施电压大小;
B.改变电路电阻R参数;
C.改变电路电感L或电容C参数;
D.改变回路电流大小。
A.一次绕组及下铁芯支架对二次绕组及地;
B.处于下铁芯下芯柱的1/4一次绕组及下铁芯支架对二次绕组及地;
C.处于下铁芯下芯柱的的1/4一次绕组端部对二次绕组端部之间的及下铁芯支架对壳之间;
D.上下铁芯支架。
A.一次绕组对二次绕组及地;
B.处于铁芯下芯柱的1/2一次绕组对二次绕组之间;
C.铁芯支架;
D.处于铁芯下芯柱的1/2一次绕组端部对二次绕组端部之间。
A.tgδ小;
B.绝缘电阻高;
C.泄漏电流小;
D.在试验电压下无局部放电。
A.测量主电容C1的tgδ和C;
B.测量分压电容C2及中间变压器的tgδ、C和MΩ;
C.电压比试验;
D.检查引出线的极性。
A.空载损耗和空载电流试验;
B.绝缘电阻和介质损耗因数tgδ测量;
C.局部放电测量;
D.引出线的极性检查试验。
A.≥12h;
B.≥24h;
C.≥48h;
D.≥72h。
A.整体受潮;
B.整体劣化;
C.小体积试品的局部缺陷;
D.大体积试品的局部缺陷。
A.贯穿性缺陷;
B.整体受潮;
C.贯穿性受潮或脏污;
D.整体老化及局部缺陷。
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