A.尺寸很小的倒易点;
B.尺寸很大的球;
C.有一定长度的倒易杆;
D.倒易圆盘。
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A.规则的平行四边形斑点;
B.同心圆环;
C.晕环;
D.不规则斑点。
A.物镜的物平面;
B.物镜的像平面
C.物镜的背焦面;
D.物镜的前焦面。
A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合;
B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合;
C.关闭中间镜;
D.关闭物镜。
A.第二聚光镜光栏;
B.物镜光栏;
C.选区光栏;
D.其它光栏。
A.球差;
B.像散;
C.色差;
D.A+B。
A.1000;
B.10000;
C.40000;
D.600000。
A.丝状粉末多晶;
B.块状粉末多晶;
C.块状单晶;
D.任意形状。
A.保持同步1﹕1;
B.2﹕1;
C.1﹕2;
D.1﹕0。
A.正装法;
B.反装法;
C.偏装法;
D.A+B。
A.劳厄法;
B.粉末多法;
C.周转晶体法;
D.德拜法。
最新试题
扫描电镜的二次电子像中,样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子,在荧光屏上这些部位的亮度较大。
拉曼光谱分析仪在使用过程中,正确的实验操作有()。
在电子探针面分析中,根据图像上亮点的疏密和分布,可确定该元素在试样中分布情况,亮区代表元素含量()。
利用电子探针的波谱仪,一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的,因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。
1887年,Hertz建立了XPS技术的理论模型。
电子探针的能谱仪和波谱仪比较,波谱仪()。
电子束与固体样品作用时,会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品()的增加而增多。
电子探针和X射线衍射仪一样,都可以直接确定材料中所包含的物相。
X射线衍射仪中,通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图,常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为()。
利用电子探针对材料微区成分进行面分析,包含几种元素就显示几种元素的分布图像。