扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

关于stokes线和anti-Stokes线，说法正确的是（）。

热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。

透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。