孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。

简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。