电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。

热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。

X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。

热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。

透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。

扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。