利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

（）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。

X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。

电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。

热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。