A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
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A、电子源
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C、形成第一副高分辨率电子显微图像
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A、德布罗意
B、鲁斯卡
C、德拜
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A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
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C、色差
D、背散
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D、背散
最新试题
1887年,Hertz建立了XPS技术的理论模型。
每种晶体物质都有自己特定的晶体结构,晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。
热分析中对样品的重量没有要求,只要样品尺寸能放进坩埚内,就可以获得良好的测试结果。
电子探针和X射线衍射仪一样,都可以直接确定材料中所包含的物相。
在热分析技术中,利用程序温控装置,可以升温、降温,但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。
孔径半角越小,衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。
简单立方结构材料发生衍射时,可以产生衍射的晶面为()。
透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节()的位置来实现的。
热分析中,不同性质的气氛对测试结果没有影响。
拉曼光谱分析仪在使用过程中,正确的实验操作有()。