A.以物镜光栏套住透射斑;
B.以物镜光栏套住衍射斑;
C.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
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A.小于真实粒子大小;
B.是应变场大小;
C.与真实粒子一样大小;
D.远远大于真实粒子
A.质厚衬度;
B.衍衬衬度;
C.应变场衬度;
D.相位衬度。
A.b=(0-10);
B.b=(1-10);
C.b=(0-11);
D.b=(010)。
A.Ig=0;
B.Ig<0;
C.Ig>0;
D.Ig=Imax。
A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑
A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合
B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合
C、关闭中间镜
D、关闭物镜
A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
最新试题
变形振动分为()。
热分析中对样品的重量没有要求,只要样品尺寸能放进坩埚内,就可以获得良好的测试结果。
1887年,Hertz建立了XPS技术的理论模型。
在热分析技术中,利用程序温控装置,可以升温、降温,但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。
X射线衍射仪中,通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图,常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为()。
扫描电镜的背散射电子像中,图像上亮区对应区域的原子序数()暗区对应区域的原子序数。
在电子探针面分析中,根据图像上亮点的疏密和分布,可确定该元素在试样中分布情况,亮区代表元素含量()。
在红外光谱分析中,基本振动区是指()。
孔径半角越小,衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。
差热分析中,若试样没有热效应时,记录仪所记录的ΔT曲线,为水平直线,称为()。