A：u
B：np
C：c
D：p
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A.上下控制限的范围一定与上下公差限的范围相同
B.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围宽
C.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围窄
D.上下控制限的范围与上下公差限的范围是相互独立的
A.用塞规，每次检测100件作为一个样本，用np控制图
B.用塞规，每次检测500件作为一个样本，用np控制图
C.用游标卡尺，每次连续检测5根轴，用X.R控制图
D.用游标卡尺，每次连续检测10根轴，用X.R控制图
A.生产根本不稳定。
B.平面度指标不服从正态分布
C.每天内的平面度波动不大，但每天间的平面度波动较大
D.这两张图什么问题也不能说明
A.CCD有旋转性，而Box-Beknken设计没有旋转性
B.CCD有序贯性，而Box-Beknken设计没有序贯性
C.CCD试验点比BOX-Beknken设计试验点少
D.以上各项都对
A.32次。
B.16次。
C.12次（Plackett-Burman设计）。
D.8次。
A.3
B.4
C.5
D.6
A.全因子试验
B.部分实施的二水平正交试验，且增加若干中心点
C.部分实施的二水平正交试验，不增加中心点
D.Plackett-Burman设计
A.8因子的全因子实验
B.8因子的部分因子实验
C.中心复合设计（CCD.
D.Box-Behnken设计
A.E=ABD，F=ABC
B.E=BCD，F=ABC
C.E=ABC，F=ABD
D.E=ACD，F=BCD
A.（23，35）
B.（24，36）
C.（20，38）
D.（21，39）
最新试题
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