A.PVDB.热氧化C.CVDD.热扩散
A.调节MOS器件阈值电压B.形成浅结C.形成互连D.MOS器件源漏精确掺杂
A.设备简单,操作容易B.工艺重复性不够理想C.生长机理简单D.所制备的薄膜纯度较高,厚度控制较精确,成膜速率快