利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。

利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

拉曼光谱分析仪在使用过程中，正确的实验操作有（）。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。