热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。

X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。

关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。

电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。

扫描隧道显微镜能用于观察导体、半导体和绝缘体材料的表面结构。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。