单项选择题

CSK-IB试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44、φ50台阶孔,其目的是方便用于()

A.测定斜探头折射角的正切(K值)
B.测定直探头盲区范围
C.测定横波斜探头的分辨力
D.以上全是

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