检测面的选择主要考虑缺陷取向，并结合工件形状和检测技术综合考虑。

CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。

斜探头楔块上部和前部开消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能损失。

多探头法是用两个以上的探头同时工作的检测方法。

单探头法是反射法，双探头法都是穿透法。

检测面准备的目的是为了保证良好的声耦合。

脉冲反射法可对缺陷定性、定量和定位。

测定“始脉冲宽度”时，应将仪器的灵敏度调至最大。

测定仪器垂直线性和动态范围时，应将仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮置于关的位置。

液浸法的优点之一是声耦合稳定，检测结果重复性好。