单探头法是反射法，双探头法都是穿透法。

检测面的选择主要考虑缺陷取向，并结合工件形状和检测技术综合考虑。

斜探头前部磨损较多时，探头的K值将变小。

纵波斜探头法的优点是工件中既有纵波，又有横波，因此可同时用纵波和横波进行缺陷检测。

底波高度法经常作为缺陷回波法的一种辅助手段。

测定仪器垂直线性和动态范围时，应将仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮置于关的位置。

穿透法的最大优点是不存在盲区，但小缺陷易漏检。

脉冲反射法可对缺陷定性、定量和定位。

软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。

CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。