A.晶体的形状
B.晶体的颜色
C.晶体的突起
D.晶体的结晶度
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A.垂直光轴的切面
B.垂直bxa的切面
C.垂直光轴面的切面
D.平行光轴面的切面
A.一次
B.五次
C.六次
D.三次
A.最大的内能
B.自限性
C.均一性
D.对称性
A.光学成像系统
B.电子系统
C.电气系统
D.减震系统
A.磁场分布是严格轴对称
B.满足旁轴条件
C.电子波的波长(速度)相同
D.电子波的波长不同
A.具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分
B.为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3nm(TEM),可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析
C.各种仪器日益向多功能、综合性方向发展
D.操作复杂
A.差热分析
B.热重分析
C.差示扫描量热分析
D.热机械分析
A.所选吸收带必须是样品的特征吸收带
B.所选吸收带能被溶剂或其它组分的吸收带干扰
C.所选吸收尽量避开水蒸气和二氧化碳的吸收区
D.带有足够的高度,并且高度对定量组分浓度的变化有足够的灵敏度
A.重复性好,难用于定量分析
B.只能用于测试可以磨成细粉的样品,对于某些坚硬的、有黏着性、柔软性和弹性的样品,多数场合得不到满意的红外光谱
C.制得的样品不便于保存
D.不能得到尖锐的吸收带
A.凡能变成细粉的样品,均可用该法测定
B.方便快速
C.可以获得样品在红外区的完整光谱
D.制成的样品便于保存
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