A.可用于比较同一组样本被两个不同量测设备量测的结果
B.计算样本量时配对t检验的计算方法与双样本t检验相同
C.并不要求检定标准差是否一致
D.数据收集方式为成对的数据收集
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
A.95%置信度对应的风险水平为0.05
B.95%的样本的平均值在总体均值的1.96倍标准误内(正态分布时Z=±1.96s内的概率约为95%)
C.置信区间是在点估计前面加一个确定性的概率
D.置信区间就是在区间估计前面加上一个确定性概率
A.受平均值μ的影响
B.受样本容量n和概率p的影响
C.适用于仅有两种可能结果的情况
D.适用于计数型缺陷
A.把非正态分布的数据转换成正态分布的数据
B.试图用多种方法把非正态分布的数据转换成正态分布的数据,并说明哪种转换方式最佳
C.取一套数据的单一值的对数
D.控制数据,从而使它们能落在规范上下限之内
A.过程能力指过程满足规范的能力
B.可以通过过程能力求得发生不良的概率
C.计算过程Cpk时,需过程处于稳定状态
D.评估过程能力可以减少变差和成本
在芯片生产过程中,如果芯片上有一个瑕疵点,则被认为是一个缺陷,每个班次结束钱抽取10片芯片进行检验。下面是3月份前15个工作日每天总缺陷数情况的记录。请你决定用哪一种控制图进行绘制()
A.P控制图
B.U控制图
C.C控制图
D.NP控制图
A.92%
B.8%
C.33%
D.84%
A.分析间接修理的损失
B.备件库存的基准
C.故障发生后的反应速度
D.维修工技能水平
A.15%
B.25%
C.12.5%
D.11.8%
A.零件寿命的推估
B.最佳修理时间的确定
C.点检项目基准的制订依据
D.掌握修理难度
A.40+/-20mm
B.40+/-10mm
C.40+/-5mm
D.40+/-4mm
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因果关系矩阵不用于()
为保持改善成果,常见的控制措施有()
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