A.电晕起始电压较低,而击穿电压较高
B.击穿电压较低,而电晕起始电压较高
C.电晕起始电压和击穿电压均较低
D.电晕起始电压和击穿电压均较高
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A.tgδ=(tgδ1+tgδ2)/2
B.tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1-C2)
C.tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1+C2)
D.tgδ=(C2tgδ1+C1tgδ2)/(C1+C2)
A.由于绝缘体内部或表面存在气隙(泡)而导致气隙(泡)内的放电
B.绝缘体中若有导电杂质存在,则在此杂质边缘由于电场集中,也会出现局部放电
C.在高电压端头上,如电缆的端头等部位,由于电场集中,而且沿面放电的场强比较低,往往就沿着介质与空气的交界面上产生表面局部放电
D.绝缘结构形式
A.I0A≈I0C>I0B
B.I0A≈I0C<I0B
C.I0A=I0C+I0B
D.I0C=I0A+I0B
A.10倍
B.20倍
C.50倍
D.100倍
A.高
B.低
C.相同
D.以上均不对
A.取动触头运动的平均速度
B.和油断路器计算方法一样
C.不需要测量
D.用时间代替
A.声测法及电位法
B.电桥法
C.脉冲反射法
D.以上均不是
A.220kV
B.275kV
C.315kV
D.375kV
A.及时发现绝缘内部的缺陷
B.及时发现绝缘外部的缺陷
C.两者都不是
D.两者都是
A.正弦波
B.三角波
C.矩形波
D.半正弦波
最新试题
在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时,若存在电场干扰,则在任意测试电源极性的情况下,所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。
双断口的SF6系列断路器有两个断口,为了使各个断口在分、合闸时承受接近均等的电压,一般用电容进行均压。
对现场使用的电气仪器仪表,仪表本身消耗的功率越小越好,否则在测小功率时,会使电路工况改变而引起附加误差。
将并联有晶闸管阀及其电抗器的电容器串接于输电线路中,并配有旁路断路器、隔离开关、串补平台、支撑绝缘子、控制保护系统等附属设备组成的装置,简称可控串补。
220kV断路器的开断电流为21kA,将它更换为31.5kA的断路器。更换断路器后开断容量是S=U×I=220×31.5=6930MVA。
超高频局部放电试验能够发现设备内部发热、放电及绝缘缺陷。
在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。
通过通过调整缺陷设备的运行方式并不能使设备的缺陷降级,因为缺陷仍然存在。
绝缘良好的tgδ不随电压的升高而明显增加。若绝缘内部有缺陷,则其tgδ将随电压的升高而明显增加。
直流泄漏电流试验能反映瓷质绝缘的裂纹、夹层绝缘内部受潮及局部断裂、绝缘的沿面炭化等。