超高频局部放电试验能够发现设备内部发热、放电及绝缘缺陷。

在现场相同条件下（好天气），用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时，用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。

通过通过调整缺陷设备的运行方式并不能使设备的缺陷降级，因为缺陷仍然存在。

当电力设备的额定电压与实际使用的额定电压不同时，当采用额定电压较高的设备以加强绝缘时，应按照设备的额定电压确定其试验电压。

若仪表刻度不均匀，则在分度线较密的部分，读数误差较大，灵敏度也较低。

GIS耐压试验之前，进行老化（净化）试验的目的是：使设备中可能存在的活动微粒杂质迁移到低电场区，并通过放电烧掉细小微粒或电极上的毛刺、附着的尘埃，以恢复GIS绝缘强度，避免不必要的破坏或返工。

绝缘良好的tgδ不随电压的升高而明显增加。若绝缘内部有缺陷，则其tgδ将随电压的升高而明显增加。

40.5kV及以上非纯瓷套管和多油断路器的tanδ应在分闸状态下按每支套管进行测量。

考虑系统短路电流产生的动稳定和热稳定效应的电气设备有变压器、断路器、电流互感器、耦合电容器。

液压机构的合闸电磁铁的动铁心卡死，是造成不能可靠合闸的重大隐患。