A.L-接被试设备、E-接地、G-接屏蔽
B.L-接地、E-接被试设备、G-接屏蔽
C.L-接屏蔽、E-接地、G-接被试设备
D.L-接屏蔽、E-接被试设备、G-接地
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你可能感兴趣的试题
A.阻性电流
B.感性电流
C.容性电流
D.以上均不是
A.辅助电压接地极
B.辅助电流接地极
C.破损的电压回路导线
D.以上均不是
A.直流电阻仪
B.兆欧表
C.回路电阻仪
D.变比测试仪
A.3kV
B.4kV
C.5kV
D.6kV
A.在被试品与试验变压器之间接入滤波器
B.在被试品与地之间接入滤波器
C.在调压器与试验变压器之间接入滤波器
D.以上均不是
A.5次
B.2次
C.3次
D.4次
A.电导电流
B.电容电流
C.工频电流
D.吸收电流
A.环境温度不低于5℃,湿度不大于80%
B.可以在霉雨天气里进行
C.试品表面脏污无需清洁
D.高压线与信号测量线可以互相缠绕
A.必须接地
B.必须开路
C.可作为另一端被试相导体的引线
D.不可作为另一端被试相导体的引线
A.直流发生器
B.交流耐压装置
C.电容电桥测试仪
D.介质损耗测量仪
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最新试题
在规定时间内承载被保护部分的负载电流或(和)故障电流,以防止电容器过电压或金属氧化物限压器过负荷的受控触发间隙。
超高频局部放电试验能够发现设备内部发热、放电及绝缘缺陷。
重大缺陷消缺率和及时率的要求分别为90%和85%。
若仪表刻度不均匀,则在分度线较密的部分,读数误差较大,灵敏度也较低。
40.5kV及以上非纯瓷套管和多油断路器的tanδ应在分闸状态下按每支套管进行测量。
试验变压器波形畸变的根本原因是调压器和试验变压器的漏抗以及电容负载所造成。
电容式传感器最常用的形式是由两个平行电极组成、极间以空气为介质的电容器。
当电力设备的额定电压与实际使用的额定电压不同时,当采用额定电压较高的设备以加强绝缘时,应按照设备的额定电压确定其试验电压。
将并联有晶闸管阀及其电抗器的电容器串接于输电线路中,并配有旁路断路器、隔离开关、串补平台、支撑绝缘子、控制保护系统等附属设备组成的装置,简称可控串补。
在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时,若存在电场干扰,则在任意测试电源极性的情况下,所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。