判断题小电容(小于500PF)试品,主要有电容型套管、电容型电流互感器等,对这些试品采用介损仪正、反接线进行测量,测得的介损tgδ值是一样的。
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在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。
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交流耐压试验电压波形应是正弦或接近正弦,两个半波应完全一样,且波顶因数即峰值与有效值之比应等于√2±0.07。
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若仪表刻度不均匀,则在分度线较密的部分,读数误差较大,灵敏度也较低。
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在规定时间内承载被保护部分的负载电流或(和)故障电流,以防止电容器过电压或金属氧化物限压器过负荷的受控触发间隙。
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采用摇表(或接地电阻测试仪)由于输出测试电流小,不用布放那么长的电压线和电流线。
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绝缘良好的tgδ不随电压的升高而明显增加。若绝缘内部有缺陷,则其tgδ将随电压的升高而明显增加。
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试验变压器波形畸变的根本原因是调压器和试验变压器的漏抗以及电容负载所造成。
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通过通过调整缺陷设备的运行方式并不能使设备的缺陷降级,因为缺陷仍然存在。
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交流耐压试验时,应测量试验电压的峰值Um,并使Um/√2=标准规定的试验电压U(有效值)。
题型:判断题
40.5kV及以上非纯瓷套管和多油断路器的tanδ应在分闸状态下按每支套管进行测量。
题型:判断题