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图所示的标准试件可用来测定()。
A.分辨率
B.灵敏度
C.边缘效应
D.厚度效应
下图所示的标准试件可用来测定()。
A.分辨率
B.灵敏度
C.边缘效应
D.厚度效应
A.试件中的变化(如裂纹的存在,金相组织或尺寸的变化)能使二次磁场的相位和振幅发生变化
B.一次交流电必须是6O周的
C.试件温度生高
D.Hp(一次磁场强度)和Hs磁场失配使输出发生变化
A.导体表面下的涡流最弱
B.导体内的涡流相位是变化的
C.涡流沿直线流动
D.沿线圈轴线的涡流最大
A.涡流的数值大于线圈中的电流值
B.涡流受试件磁导率的影响
C.涡流在导体中无功率消耗
D.以上都不是
A.只包含缺陷信息而不显示磁场强度的变化
B.不包含串音发生的信号
C.不包含电噪声
D.以上都是
A.物体变热,不能得到信息
B.插入物体抵消了所有信息
C.插入物体会使二次磁通量增强,从而产生一个新的磁通量,可用它提供试验信息
D.从二次电压中减去一次电压,便得到净电压
A.涡流
B.一次线圈
C.发生器
D.以上都是
A.可以由若干个参数产生
B.可依据有关的变量进行选择
C.对不同参数的变化,响应的相位和大小不同
D.以上都是
A.试验频率
B.试件温度
C.试件硬度
D.试件磁导率
E.以上都是
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