多项选择题在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。

A.均匀性
B.粒度效应
C.辐射
D.吸收-增强效应


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