波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较...

判断题波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。

1.判断题波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

2.判断题X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

3.判断题在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

4.判断题X射线荧光分析标准添加法和稀释法中，仍需要标准和校准曲线。

5.判断题X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

6.判断题X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

7.判断题X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

8.判断题X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

9.判断题X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

10.判断题X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。