单项选择题单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()

A.近场干扰
B.材质衰减
C.盲区
D.折射


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1.单项选择题仪器的垂直线性好坏会影响()

A.缺陷的当量比较
B.AVG曲线面板的使用
C.缺陷的定位
D.以上都对

2.单项选择题仪器水平线性的好坏直接影响()

A.缺陷性质判断
B.缺陷大小判断
C.缺陷的精确定位
D.以上都对

3.单项选择题探头上标的2.5MHZ是指()

A.重复频率
B.工作频率
C.触发脉冲频率
D.以上都不对

5.单项选择题与超声频率无关的衰减方式是()

A.扩散衰减
B.散射衰减
C.吸收衰减
D.以上都是

6.单项选择题由材料晶粒粗大而引起的衰减属于()

A.扩散衰减
B.散射衰减
C.吸收衰减
D.以上都是

7.单项选择题超声波(活塞波)在非均匀介质中传播,引起声能衰减的原因是()

A.介质对超声波的吸收
B.介质对超声波的散射
C.声束扩散
D.以上全部

10.单项选择题要在工件中得到纯横波,探头入射角α必须()

A.大于第二临界角
B.大于第一临界角
C.在第一、第二临界角之间
D.小于第二临界角