电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。

利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。

扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。

根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

拉曼光谱分析时，1500cm-1以上的谱带必定是一个基团的频率，解释通常是可靠的，一般可以确信其推论。

孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。

X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。