A.分析参数中分析方法设置错误;
B.分析参数中测光点选择错误;
C.吸光度超限问题;
D.光源灯老化,发光不稳定;
E.试剂不良。
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A.光源灯老化及损坏;
B.光窗污染及损坏;
C.水槽水污染;
D.比色杯脏污及损坏;
E.试剂更换了。
A.吸光度超限问题;
B.试剂质量不良问题;
C.参数设置问题,测光点设置有误;
D.参数设置问题,反应时间与测光点存在逻辑错误;
E.参数设置问题,波长设置有误。
A.计算中使用的项目中有报警;
B.校准未通过;
C.超过技术限;
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围;
E.校准重复性不良。
A.ABSLimit超限;
B.超过技术限;
C.补偿计算的分母为“0”;
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围;
E.校准重复性不良。
A.ABSLimit超限;
B.超过技术限;
C.补偿项目中发生报警或同工酶P的测定结果中有报警;
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围;
E.校准重复性不良。
A.1号杯340nm〈16000,杯间差〈±1000时,出现杯空白报警;
B.与杯空白检查值比较,ABS差值超过1000时,出现杯空白报警;
C.1号杯340nm〈19000,杯间差〈±800时,出现杯空白报警;
D.1号杯340nm〈19000,杯间差〈±1000;
E.1号杯340nm〈16000,杯间差〈±800。
A.校准通过;
B.校准失败(标准曲线出现极值);
C.校准通过,但关机后新的校准结果不存盘会丢失;
D.同一项目第二次校准发生相同数据报警时,标准曲线更新;
E.同一项目第三次校准发生相同数据报警时,标准曲线更新。
A.更新;
B.不更新;
C.校准通过,标准曲线暂时更新,但关机后新的标准曲线不存盘会丢失。
D.同一项目第二次校准发生XXXXP数据报警时,标准曲线更新;
E.同一项目第三次校准发生XXXXP数据报警时,标准曲线更新。
A.ABSLimit超限;
B.超过技术限;
C.非直线标准曲线及线性(多点)标准曲线中,实测吸光度的SD值大于应用(校准)画面中“偏移允许吸光度”的输入值;
D.校准得到的试剂空白值超出了设置的试剂空白吸光度范围;
E.校准重复性不良。
A.校准液浓度非由低到高;
B.校准液浓度或位置未做设置;
C.分析方法与计算用测光点发生逻辑错误;
D.此次用校准求出的K系数与储存于仪器中的K系数之差超过本次值与上次值的平均值的±20%
E.校准重复性不良。
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