问答题为什么用X射线粉末法测定晶胞参数时常用高角度数据(有时还根据高角度数据外推至θ=90°),而测定超细晶粒的结构时要用低角度数据(小角散射)?

您可能感兴趣的试卷

你可能感兴趣的试题