A.clock skew B.组合电路的最大延迟 C.FF的Setup时间 D.FF的Hold时间
A.Distributed BIST B.Direct Access C.Test Bus D.Boundary Scan
A.由于内嵌测试模式发生器,不需要额外生成测试模式 B.由于只输出GO/NOGO,故障分析很困难 C.由于内嵌测试输出评估部,不需要高价测试设备,可降低成本 D.不可用于Burn-In测试