热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

在红外光谱分析中，基本振动区是指（）。