每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。

扫描隧道显微镜能用于观察导体、半导体和绝缘体材料的表面结构。

关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。

X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

在红外光谱分析中，基本振动区是指（）。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

红外光分为（）。