A.明确组成单元可靠性定量要求
B.发现设计薄弱环节
C.比较不同设计方案
D.确定组成单元的维修性要求

A.确定导致顶事件发生的原因和原因组合
B.发现潜在的故障，发现设计薄弱环节
C.指导故障诊断和维修方案
D.评价产品设计，生产阶段故障的影响

A.包含多个相同元器件时，可用单个元器件的失效率计算
B.各单元失效率为常数
C.各单元相互独立
D.各单元均串联

A.变形
B.断裂
C.点蚀
D.共振

A.建树时不允许逻辑门直接相连
B.故障树中存在共因事件时，必须使用同一事件标号
C.原因事件可以是硬件故障和软件故障不能是环境因素和人为因素
D.建好的故障树必须进行简化和模块分解

A.尽量使每一方案的两类决策风险尽可能接近
B.当检验下限和鉴别比给定时，总试验时间随着双方风险的减少而增加
C.当检验下限和鉴别比给定时，为减少双方风险就需要增加总试验时间
D.生产方风险与使用方风险始终应为一致

A.常规筛选方法是目前广泛应用的一种方法
B.定量筛选方法也是目前广泛应用的一种方法
C.如果产品研制时间紧迫，都可以采用高加速应力筛选方法
D.在无法确定常规筛选和定量筛选方法之前，可采用初始筛选方法

A.为了评价产品的贮存期到底有多长的试验称为贮存寿命试验
B.在贮存过程中处于非工作状态，贮存环境应力比工作应力小得多
C.产品贮存寿命试验是保证产品可靠性的重要工作项目之一
D.不可修复产品的贮存寿命试验不重要可以不做

A.如果出现故障后影响检测，应立即中断循环，进行故障调查并修复，修复部分进行局部检验合格后从该循环的开始点继续进行循环，出现故障的循环无效
B.如果出现故障，无论是否修复，出现故障的循环都有效
C.如果出现故障不用修复，可直接转入随机振动
D.如果出现故障但仍可通电，则可将故障调查和修复过程推迟到该循环结束时进行，此时该循环有效

A.模型可对整张趋势进行统计分析，不能对试验中的MTBF进行估计
B.是利用非齐次泊松过程建立的可靠性增长模型
C.皆可用于寿命性产品，也可以用于在每个实验阶段内试验次数相当多而且可靠性相当高的一次使用产品
D.模型仅能用于一个试验阶段，而不能跨阶段对可靠性进行跟踪