水浸聚焦探头是由外壳、阻尼块、晶片、声透镜等组成。

当探头与被检工件表面耦合状态不同时，而又没有进行适当的补偿，会使定量误差增加，精度下降。

为了减少侧壁的影响，必要时可采用试块比较法进行定量，以便提高定量精度。

缺陷垂直时，扩散波束入射至缺陷时回波较高，而定位时就会误认为缺陷在轴线上，从而导致定位不准。

当探头的性能不佳时出现两个主声束，发现缺陷时很难判断是哪个主声束发现的，因此也就难以确定缺陷的实际位置。

横波检测平板对接焊缝根部未焊透等缺陷时，不同K值探头检测同一根部缺陷，其回波高相差不大。

水浸式探头主要特点是探头与工件直接接触，且探头部分或全部门浸入耦合液中。

对于横波斜探头而言，不同K值的探头的灵敏度不同，因此探头K值偏差也会影响缺陷的定量。

无论声波相对于缺陷是垂直入射还是斜入射，缺陷大小不同其反射波的指向性有相当大的差异。

液浸法探伤是使探头发射的超声波经过一段液体后再进入试件的检测的方法。