在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。

当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。

在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。