在Si的平表面上镀了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈状(图中AB段)。现用波长为600nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等厚干涉条纹。在图中AB段共有8条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,则薄膜的厚度为()。(Si折射率为3.42,SiO2折射率为1.50)