晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。

判断题晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。

1.判断题明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。

2.判断题TEM的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加；随放大倍数的提高而减小。

3.判断题景深是保持象清晰度时，试样在物平面沿轴向可移动的距离。

4.判断题焦深是保持象清晰度时，试样在物平面沿轴向可移动的距离。

5.多项选择题TEM成像系统由（）、（）和（）组成。

A.物镜
B.聚光镜
C.中间镜
D.投影镜

6.单项选择题将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（）。

A.明场像
B.暗场像
C.中心暗场像
D.弱束暗场像

7.单项选择题由于试样的质量和厚度不同，各部分与入射电子发生相互作用，产生的吸收与散射程度不同，而使得透射电子束的强度分布不同，形成反差，称为（）。

A.形貌衬度
B.衍射衬度
C.质厚衬度
D.相位衬度

8.单项选择题可以提高透射电子显微镜的衬度的光栏是（）。

A.第二聚光镜光栏
B.物镜光栏
C.选区光栏
D.第一聚光镜光栏

9.单项选择题电子束穿透固体样品的能力，主要取决于电压V和样品物质的原子序数Z。一般V （），Z （），电子束可以穿透的样品厚度越大。

A.越低，越低
B.越低，越高
C.越高，越高
D.越高，越低

10.判断题扫描电镜的景深比一般光学显微镜景深大100-500倍，比透射电子显微镜的景深大10倍。