A.颗粒 B.金属 C.有机分子 D.静电释放(ESD) E.水
A.重离子加速器 B.热扩散炉 C.质子分析仪 D.轻离子分析器
A.生长出的二氧化硅中引入很多可动离子 B.氧化的速度慢 C.生长的二氧化硅缺陷多 D.生长的二氧化硅薄膜钝化效果差
A.等离子体刻蚀 B.反应离子刻蚀 C.湿法刻蚀 D.溅射刻蚀
A.中子源B.离子源C.电子源D.质子源
A.LPCVD B.PECVD C.CVD D.PVD
片状元器件可以用三种包装形式提供给用户:散装、管状料斗和盘状纸编带。
A.不会影响成品率 B.晶圆缺陷 C.成品率损失 D.晶圆损失