A.缺陷横截面积较大,且较接近探测表面 B.缺陷横截面积较大,且较接近底面 C.缺陷横截面积较小,但较接近探测表面 D.缺陷横截面积较小,但较接近底面
A.隔离干扰源 B.把数字与模拟电路分开 C.滤波技术 D.屏蔽技术 E.采用隔离放大器