A.横波检测薄壁管的内、外壁缺陷 B.斜入射纵波检测厚壁管外壁缺陷，变形横波检测内壁缺陷 C.斜入射纵波检测厚壁管外壁缺陷，反射纵波检测内壁缺陷 D.以上都是
A.当超声波的波长远大于金属晶粒大小时 B.当超声波的波长等于或小于金属晶粒大小时 C.当超声波的频率过低或晶粒过小时 D.当萤光屏上不出现草从回波时
A.目视法 B.射线法 C.磁粉法 D.涡流法
A.原材料缺陷 B.锻造缺陷 C.热处理缺陷 D.以上都有
A.使用高声阻抗耦合剂 B.使用软保护膜探头 C.使用较低频率和减少探头耦合面尺寸 D.以上都可以
A.Ⅰ级 B.Ⅱ级 C.Ⅲ级 D.Ⅳ级
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